低酸素虚血性神経損傷

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はじめに

はじめに 低酸素性虚血性神経損傷は、呼吸停止またはその他の神経機能障害の原因によって引き起こされる神経学的虚血性または低酸素性神経浮腫によって引き起こされる神経学的または器質的な神経障害です。神経機能が良好になった後、過剰な虚血時間と二次的な虚血変性により一部の神経が悪化します。 ショック、血管圧迫、姿勢神経圧迫、麻酔事故またはアレルギー、薬物アレルギーでより一般的。 その臨床症状のほとんどは、神経学的な機能不全で発生します。

病原体

原因

ショック、血管圧迫、姿勢神経圧迫、麻酔事故またはアレルギー、薬物アレルギーでより一般的。

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関連検査

頭蓋底磁気共鳴スキャンの神経学的検査

その臨床症状のほとんどは、神経学的な機能不全で発生します。

（1）X線頭蓋骨、頭蓋底断層撮影、骨折線を通して脳神経損傷を推測するCTスキャン。

（2）MRI頭蓋底薄層スキャンでは、神経根の腫れ、出血、骨折まで見ることができます。

（3）誘発電位の電気生理学的検査により、視神経および聴覚神経損傷を検出できます。

（4）筋電図検査は、顔面神経の損傷を測定し、予後を決定します。

診断

鑑別診断

新生児低酸素性虚血性脳症（HIE）は、新生児仮死の深刻な合併症であり、精神遅滞と脳性麻痺の主な原因の1つであり、重篤な病気、高い死亡率を持ち、永続的な神経を産生します。機能不全および脳震盪神経の関与、ショック神経の関与、器質的神経損傷、病理学的神経損傷、機能性神経損傷、一次神経損傷、二次神経損傷、神経損傷の遅延、神経性けいれんなど識別。